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1.コーナーキューブミラー
精度と安定性が要求される干渉計には、逆行反射素子であるコーナーキューブミラーを使用。外乱等による影響をリアルタイムでキャンセルし、安定した測定が行えます。
2.測定開始ボタン装備
測定開始ボタンを装備し、本体からの操作で測定を開始することができます。簡易測定プログラムとの組み合わせにより、より簡便な測定が可能となります。
3.DSP制御
最新のDSP(Digital Signal Processing)技術を用いて、干渉計のコントロールにデジタル制御を採用することにより、高精度な移動鏡制御を実現し、定速度性能の向上が図られています。
4.検出器
検出器には高感度、高安定なDLATGS検出器を使用しています。ペルチェ素子により、TGS素子が最適な温度に保たれており、温度安定性の向上とともに検出器の性能を最大限に引き出します。
5.波数拡張性
FT/IR-4000 シリーズは中赤外、近赤外、遠赤外対応モデルを選択することができ、FT/IR-6000 シリーズは可視から遠赤外まで光学素子等を交換することにより、変更することができます。
6.高SN比
DSP制御や24ビットA/Dコンバータの採用等により、高SN比を達成しました。
7.防振対策
光学ベースの脚は、免振構造になっており、外部からの振動による光学系への影響を抑えています。
8.高感度測定
オプションの高感度測定機能により、特定波数領域を高感度(約2倍)で測定することができます。バンドパスフィルタを挿入して、検出器に目的の波数帯域のみの光を入射させることで光量を増やすことができ、高感度化を図ることが可能になります。
9.GxP対応
バリデーションに対応した性能確認試験プログラムを標準で搭載しています。このプログラムはJP、USP、EP、ASTM、JISに対応しています。また、FDA 21CFR Part 11に対応したスペクトルマネージャCFRバージョンも用意しています。
10.スマートパージシステム
スマートパージ機構は、対応付属品を試料室にセットするだけで付属品内のパージが効率よく行われます。付属品とパージ用チューブの接続が必要ありません。

FT/IR-4100/4200  特  長
● 高SN比
● IQアクセサリー対応
● 大型試料室
● メンテナンスフリー光学系
● 高感度検出器を搭載可能
● マルチチャンネル赤外顕微鏡に対応
● ラピッドスキャン機能を搭載可能
● 近赤外、遠赤外対応バージョンを設定
FT/IR-6100/6200/6300  特  長
● 超高分解0.07cm-1対応可能
● 最高SN比50000:1(FT/IR-6300)
● ラピッドスキャン測定対応可能 (FT/IR-6300標準)
● ステップスキャン測定対応可能
● 25000〜10cm-1まで測定波数拡張可能
● マルチチャンネル赤外顕微鏡に対応
● ラマン対応可能
● 筐体を真空対応可能

JASCOスペクトルマネージャは赤外、紫外可視近赤外、蛍光、ラマン、円二色性など日本分光が提供する光分析製 品の測定操作から高度なデータ解析までを可能とする共通プラットフォームとして設計された統合ソフトウェアパッ ケージです。
FT/IR-4000および6000シリーズに搭載されているスペクトルマネージャVer.2は、測定プログラムと解析プログラムから構成され、測定中の解析も可能です。また、測定か ら印刷までの一連の操作を予め登録しておくだけで、誰にでも簡単に測定が行える便利な簡易測定プログラムも搭載 されています。FDA 21 CFR Part 11に対応したバージョンも用意しています。


測定プログラムには、アドバンスモードとベーシックモードが用意されており、 ベーシックモードは積算回数、分解などの基本的な設定のみで測定が行えます。 アドバンスモードは、光学系やフーリエ変換に関する設定などが行え、より詳細 な条件設定が行えます。
画面の指示通りに必要項目を設定するだけで、測定およびデータ処理、結果の保 存、印刷までの一連の作業をルーチン化することができます。また、簡易測定プログラムには類似スペクトルを識別できる比較機能も搭載 されています。

●測定条件設定画面(アドバンスモード)


IQ アクセサリー対応付属品が試料室にセットされるとIQ アクセサリー内のメモ リに登録されている付属品情報が読み込まれ、前回そ の付属品で測定した時の測定条件が自動的に設定されます。
解析プログラムには、ピーク検出、スムージング、差スペクトル、ベースライン 補正やATR補正など各種補正プログラム、水蒸気除去や炭酸ガス除去プログラム が標準で搭載されています。スペクトルデータは、JCAMP-DX形式、テキスト形式についてもインポートおよびエクスポートする ことにより読み込み、保存が可能です。



●ピーク検出
FDA 21 CFR Part11 は、GLP、GCP、GMPの記録を電子化する場合の規則です。スペクトルマネージャ CFRはFDA 21CFR Part11 の要求する電子記録・電子署名、データの安全性と完全性を保証するためのセキュリティー機能 および監査証跡の機能を提供します。
● CFR バージョン ログオン画面 

FT/IR-4000 および6000シリーズには、データ検索ソフトとして高い評価を得ているサドラーのKnow It All が搭載されています。KIAには、スペクトル検索、複合成分検索、部分構造解析、化学構造式作成機能などが含まれています。さらに試薬およびポリマー関連のデー タベース1万スペクトルを標準で搭載していますので、導入したその日から活用でき、ユーザーデータベースを作成する 機能も搭載されています。また、サド ラーで30年以上にわたり蓄積されたデジタルデータベース22万件を、装置購入後90日間、使用できます。 複合成分検索は、複数成分が混在している未知試料の検索を行えます。
●複合成分検索結果
GxPやISO-9000では、使用する分析装置の信頼性管理が要 求されています。FT/IR-4000、6000の標準搭載プログラム には、これに対応した性能確認試験プログラムが入っていま す。このプログラムは、JP、USP、EP、ASTM、JISに対応しています。 さらに作業効率をはかるため、ポリスチレンフィルムとガラス板が装着された自動バリデーション(VAL- 6000/4000)をオプションで用意しています。
●試験条件設定画面


赤外分析におけるイメージング測定は、試料の化学的な構造を可視化し解析するのに必要不可 欠なツールとなっています。単素子検出器を用いた赤外顕微鏡でも自動ステージと組み合わせ てマッピング測定が行われていましたが、機構上測定に時間がかかる点がネックでした。 IRT-7000 には16チャンネルMCTタイプのリニアアレイ検出器が搭載されており、高速自 動ステージとの組み合わせにより、従来に比べ1/100にまで測定時間が短縮されます。

赤外分光光度計は、多岐にわたる分野で汎用の分析装置として活躍しています。その中でも、微小領域に おける赤外分光分析は、製品開発や品質管理、バイオメディカルなどの分野で必要不可欠な手法であり、 より高性能、高機能化が求められています。IRT-5000は、そのようなニーズに応えるべく誕生した赤外 顕微鏡です。スマートマッピング機能により、マニュアルステージでもマッピング測定が行えます。

●スマートマッピング機能

Irtron μは、マイクロサンプリングアクセサリーとして、微小、微量な試料を手軽に測定するために誕生 しました。赤外顕微鏡に必要な機能をコンパクトな筐体に納め、小型、軽量、低価格を実現したツールで す。FTIR本体の試料室にセットするタイプなので、他の付属品と同じように取り付け取り外しが容易に 行えます。


ATR(全反射吸収測定)
ATR PRO450-Sは、微小なプリズムを使用し、試料との接触面積が小さいため密着性がよく、比較的小さな試料や表面がラフな試料でも測定できます。プ リズムには、ZnSe、Ge、ダイヤモンドの3種類を用意し、ダイヤモンドは300cm-1までの測定が可能になっています。ATR PRO470-Hは高耐圧型 (1700kg/cm2)のため、従来品の約10倍の圧力で試料とプリズムを密着することができ、密着性の悪い試料や吸収強度の小さい試料の測定に威力を発揮し ます。

         ATR PRO470-H

高感度反射
金属表面に、入射面に対して平行な偏光成分の光を入射した場合、金属面の反射点で、入射光と反射光の電気ベクトルが干渉を起こして強め合い、金属表 面に垂直な定常波を形成します。この定常波と金属表面上の薄膜との相互作用により光は吸収を受け透過法と比較して約1桁から2桁近く感度の増大が図 られます。

拡散反射
粉体試料に光を照射すると光の一部は粒子の表面で正反射し、その他の光は試料内部に潜り込み、粒子の中を透過、反射、散乱を繰り返して出てきます。 この拡散反射光を捕らえて測定する方法を拡散反射法と言います。

FT/IR4000 series 仕様

モデル名 4100 4200
測定波数範囲 7800〜350cm-1
測定波数拡張範囲 15000〜2200cm-1、5000〜220cm-1
最高分解 0.9cm-1 0.5cm-1
S N 比 22000:1 30000:1
検出器
(オプション)
DLATGS(温調付き)
MCT-N、MCT-M、MCT-W、Siフォトダイオード、InSb、InGaAs
ビームスプリッタ
(オプション)
Ge/KBr
Si/CaF2、Ge/CsI
光源
(オプション)
高輝度セラミック光源
ハロゲンランプ
干渉計 45゜入射マイケルソン干渉計
コーナーキューブミラー使用、オートアライメント機構、DSP制御
密閉型
パージ 干渉計、試料室、検出器部対応
A/Dコンバータ 24bit A/Dコンバータ
ラピッドスキャン機能 オプション
高感度測定機能 オプション
通信仕様 USB2.0
防振対策 免振構造内蔵脚
対応OS 日本語WindowsVista Business
ソフトウェア JASCOスペクトルマネージャ Ver.2
簡易測定プログラム
I Q アクセサリー 標準
スタートボタン 標準

FT/IR6000 series 仕様

モデル名 6100 6200 6300
測定波数範囲 7800〜350cm-1
測定波数拡張範囲 25000〜10cm-1
最高分解 0.5cm-1 0.25cm-1 0.07cm-1
S N 比 42000:1 45000:1 50000:1
検出器
(オプション)
DLATGS(温調付き)
MCT-N、MCT-M、MCT-W、Siフォトダイオード、InSb、InGaAs
DLATGS(PE窓)、Siボロメーター
ビームスプリッタ
(オプション)
Ge/KBr
広帯域Quartz、Si/CaF2、広帯域KBr、Ge/CsI、マイラー(5、12、25、50μm、広帯域型)
光源
(オプション)
高輝度セラミックス光源
ハロゲンランプ、水冷式高圧水銀光源
干渉計 28゜入射マイケルソン干渉計
コーナーキューブミラー使用、オートアライメント機構、DSP制御
密閉型
真空密閉対応 オプション
パージ 干渉計、試料室、検出器部対応
A/Dコンバータ 24bit A/Dコンバータ
ラピッドスキャン機能 オプション 標準
ステップスキャン機能 オプション
通信仕様 USB2.0
対応OS 日本語WindowsVista Business
ソフトウェア JASCOスペクトルマネージャ Ver.2
簡易測定プログラム
I Q アクセサリー 標準
スタートボタン 標準