日本分光製品情報　紫外可視近赤外分光光度計 V-7000

V-7000シリーズは見えなかった世界が見える、ハイエンド紫外可視近赤外分光光度計です。
ダブルモノクロメータを採用し、電気系と光学系の吟味を重ね、世界トップクラスの性能を実現、光学材料や光デバイスの分光特性評価や薄膜の膜厚測定などを強力にサポートします。
3モデルがラインナップされ、用途に応じてお選び頂けます。V-7100は紫外可視領域専用モデル、V-7200は近赤外検出器にPbS光導電素子を採用し3300nmまで測定可能な広波長領域モデル、V-7300は近赤外検出器にInGaAsフォトダイオードを採用した近赤外領域高SN比モデルです。

ダブルモノクロメータのハイエンドモデル
測定波長領域と感度に合わせて選べる3モデル
世界トップクラスの広い測光範囲　+/－8.0Abs
超低迷光設計の採用
波長分解　0.049nmの高分解を実現（紫外可視領域）
日本分光の光分析装置に採用されているクロスプラットフォームソフトウェアJASCOスペクトルマネージャにより快適なPC制御

２種類の光学フィルタを各1枚ずつと2枚重ねの3通りで測定をしました。２枚重ねの測定結果と、1枚ずつ測定した結果を足し合わせた計算値を比較すると、非常に広い波長域と測光範囲で一致しています。これより、測光範囲の広さと線形性の高さが分かります。

Co(NO₃)₂水溶液のスペクトルと511nmでの吸収から求めた検量線を示します。吸光度6を超える高濃度から低濃度まで、直線性良く測定できていることが分かります。

■専用付属品

●絶対反射率測定装置
各種固体試料の変角測定を自動化。半導体、薄膜、フィルム、光学素子、光デバイスの分光特性評価や膜厚測定に適しています。

●小型積分球
粉末試料、懸濁液、凹凸のある固体表面の拡散反射測定に用います。正反射光が直接検知器部分に入るのを防ぐトラップ付きです。

●ペルチェ式６連セルプログラマ
カイネティクスやDNAメルティング測定に適した水冷ペルチェ温度調節機能付きセルプログラマです。最大12試料測定可能です。制御温度範囲-10～100℃。

■仕様

モデル名 V-7100型
紫外可視分光光度計 V-7200型
紫外可視近赤外分光光度計 V-7300型
紫外可視近赤外分光光度計

光学系立体配置リトロー型マウント　ダブルモノクロダブルビーム方式

光源重水素ランプ　タングステンハロゲンランプ　水銀光源（バリデーション用）

波長範囲 185～900nm 185～3300nm 185～1800nm

分解 0.049nm以下（UV/VIS） 0.049nm以下（UV/VIS）
0.2nm以下（NIR） 0.049nm以下（UV/VIS）
0.1nm以下（NIR）

波長正確さ ±0.08nm（190～800nm） ±0.08nm（190～800nm）
±0.40nm（800～3000nm） ±0.08nm（190～800nm）
±0.20nm（800～1700nm）

測光レンジ +/－8.0Abs +/－8.0Abs +/－8.0Abs

測光正確さ 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）
ダブルアパーチャ使用 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）
ダブルアパーチャ使用 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）
ダブルアパーチャ使用

ベースライン安定性 0.0002Abs/Hr以下 0.0002Abs/Hr以下 0.0002Abs/Hr以下

ベースライン平坦性 ±0.0012Abs（200～850nm） ±0.0012Abs（200～3000nm） ±0.0012Abs（200～1700nm）

迷光 0.00007%以下220nm（10g/L NaI ASTMメソッド）
0.00007%以下370nm（50g/L NaNO2） 0.00007%以下220nm（10g/L NaI ASTMメソッド）
0.00007%以下370nm（50g/L NaNO2）
0.0003%以下1420nm（H2O 光路長1cm）
0.00048%以下2365nm（CHCl3 光路長1cm） 0.00007%以下220nm（10g/L NaI ASTMメソッド）
0.00007%以下370nm（50g/L NaNO2）
0.00005%以下1420nm（H2O 光路長1cm）

検出器光電子増倍管光電子増倍管
冷却型PbS光導電素子光電子増倍管
冷却型InGaAsフォトダイオード

定量測定 1,2,3波長演算
検量線：一次、二次、三次式、比例、折れ線、ロジスティック関数、スプライン関数

スペクトル測定測光モード：Abs,%T,%R
データ処理機能：ピーク検出，ピーク高さ（比）、ピーク面積（比）、半値幅、トレース、ズーム、微分、
スムージング、Abs/%T/%R変換、K-M変換、K-K変換、四則演算、ベースライン補正、差スペクトル、
不要ピーク除去、デコンボリューション、FFTフィルタ、データ補間カット、横軸変換：cm-1,μm,eV,nm

時間変化測定測光モード：Abs,%T,%R
データ処理機能：カイネティクス、トレース、ズーム

固定波長測定最大8波長同時測定可能

データ処理 AT互換機

プログラム JASCOスペクトルマネージャ

OS WindowsXP/2000

外部メモリ 40GB HDD、256MB、CD-ROM

モニタ 15インチTFT液晶モニタ

表示日本語

出力
（オプション） Windowsドライバ対応プリンタ

寸法・重量 1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg

	●絶対反射率測定装置各種固体試料の変角測定を自動化。半導体、薄膜、フィルム、光学素子、光デバイスの分光特性評価や膜厚測定に適しています。
	●小型積分球粉末試料、懸濁液、凹凸のある固体表面の拡散反射測定に用います。正反射光が直接検知器部分に入るのを防ぐトラップ付きです。
	●ペルチェ式６連セルプログラマカイネティクスやDNAメルティング測定に適した水冷ペルチェ温度調節機能付きセルプログラマです。最大12試料測定可能です。制御温度範囲-10～100℃。