「JEOL 改正RoHSセミナー 2018」にて講演いたします
本セミナーは終了致しました。多くのご参加ありがとうございました。
このたび、日本分光は2018年12月20日に開催されます日本電子株式会社主催の「JEOL 改正RoHSセミナー 2018」にて「FTIRによるフタル酸エステル類の検査法」と題しまして講演いたします。本セミナーは、改正RoHS指令に関わる最新動向及びフタル酸スクリーニングへの適切な対応についてのセミナーです。
講演のほかに、ポスター展示と質疑応答の時間も設けております。
時節柄、大変ご多忙とは存じますが、何卒ご参加くださいますよう、謹んでお願い申し上げます。
開催要項
日時：
2018年12月20日(木) 12:50～16:30 （受付開始 12:20）
会場：
東京都 北区 北とぴあ 第2研修室
参加費：
無料
主催：
日本電子株式会社
申込、詳細：
日本電子株式会社ホームページ
問い合わせ：
日本電子株式会社 改正RoHSセミナー事務局 池田
e-mail: eikeda@jeol.co.jp
Tel: 03-6262-3575
FAX: 03-6262-3577
e-mail: eikeda@jeol.co.jp
Tel: 03-6262-3575
FAX: 03-6262-3577
プログラム
12:20～
受付
12:50～12:55
開催挨拶
12:55～14:15
「改正RoHS指令の規制動向」
14:15～14:45
「PY/TD-GC/MSによるフタル酸エステル類のスクリーニング分析」
14:45～15:00
休憩
15:00～15:20
「フタル酸エステル類認証標準物質・分析前処理装置・技能試験のご紹介」
15:20～15:40
「現場で使える、XRF活用術」
15:40～16:10
「FTIRによるフタル酸エステル類の検査法」
16:10～16:30
「パイロライザーによるフタル酸エステルのスクリーニング分析 -日常の操作とメンテナンス、結果の正確さ、高速分析法の提案-」
※プログラムは予告無く変更させていただく場合がございます。予めご了承いただきますよう、お願い申し上げます。
