SEMICON Japan 2019 出展案内
SEMICON Japanは、世界最大級のマイクロエレクトロニクス製造サプライチェーン総合展示会です。その核となる半導体製造装置・材料については、前工程から後工程までの全てを網羅する、国内唯一の大規模国際展示会となります。
日本分光は、SEMICON Japan 2019に出展いたします。皆様のご来場お待ちしております。
出展装置
フーリエ変換赤外分光光度計（FT/IR-6000 series）+赤外顕微鏡（IRT-7000 series）
FT/IR-4000、6000シリーズは、ハードウェアの最適化により高感度、高安定を達成しました。ソフトウェアは多彩な測定機能に加え、リアルタイムデータ処理などの多数の機能が搭載されています。微小領域の赤外分光分析には、赤外顕微鏡が活躍します。
FT/IR-4000、6000シリーズの詳細はこちら >IRT-7000シリーズの詳細はこちら >
レーザラマン分光光度計（NRS-5500）
NRS-5000/7000シリーズは、高波数分解、極低波数測定、高速イメージング機能など、顕微レーザラマン分光光度計に要求される性能、機能を網羅しています。
NRS-5000シリーズの詳細はこちら >
紫外可視分光光度計（V-700 series）+自動絶対反射率測定ユニット
金属やガラス等の鏡面反射する試料の絶対反射率および拡散反射する試料の相対反射率を測定できます。
今回の展示会では紫外可視近赤外域の広い波長範囲をカバーするモデルであるV-770をベースにしたシステムを紹介します。
顕微紫外可視近赤外分光光度計（MSV-5000 series）
MSV-5000シリーズは、紫外域から近赤外域にわたる広範囲な波長領域で微小試料や微小部位の透過・反射測定を可能にした顕微分光システムです。
デバイスの透過・反射特性の評価、半導体のバンドギャップ測定や膜厚計測など、幅広い分野への応用が可能です。
多目的FTIR（VIR series）
VIRシリーズは、高機能なFTIRをコンパクトな筐体に収めた多目的FTIRです。小型で場所をとらず、ラボ・現場・組み込みシステムなどあらゆる測定場所に柔軟に対応できます。
VIRシリーズの詳細はこちら >
ポータブル分光光度計（MV-3000 series）
MV-3000 series ポータブル分光光度計は、スペクトルを最短5msec毎に測定することができます。
小型で取り回しが良く、現場計測等の用途にも広く用いることができます。
