ATR PRO 4X VIEWによる紙の上の異物の測定

試料観察が可能な ATR 付属品を使用することで、観察画像を確認しながら不透明な試料上の所望の場所のスペクトル測定が可能です。

ミクロンオーダーの微小異物の同定には赤外顕微鏡が広く用いられています。これに対して目視できる数百ミクロンのサイズの異物分析には一回反射ATRが利用され始めています。ATR法は前処理の必要がなく非破壊で簡単にサンプル測定ができますが、一般的な一回反射ATRではサンプルとプリズムが密着した状態を観察することができません。このため紙のような不透明な試料の表面の小さな異物を測定する場合、プリズムと異物を適切に密着させることが困難となります。今回開発した ATR PRO 4X VIEW は、プリズムを通して試料画像が観察できるため、不透明な試料表面上の異物の位置が確認できるようになりました。これにより目的の異物を確実にプリズム中心に設置することができます。ここでは紙の上の微小異物を ATR PRO 4X VIEW で測定し良好な結果が得られたので報告します。