FT/IR-4X

フーリエ変換赤外分光光度計

FT/IR-4X

1954 年日本初の赤外分光光度計 DS-101 を開発した東京教育大学附属光学研究所をルーツとする日本分光は、1958 年の会社設立以来、先人達の赤外分光光度計に対するスピリットを受け継ぎ、その集大成として FT/IR-4X を完成させました。ダウンサイジングを追求した結果、サイズはわずか 386 (W) × 479 (D) mm で消費電力も従来比 30 ％減を達成しました。性能、機能、拡張性はリサーチグレードクラスであり、高分解、高S/N、高感度検出器、測定波数拡張、マルチチャンネル顕微鏡、ラピッドスキャンに対応しています。試料室は大型装置と変わらない幅 200 mm あり、サードパーティー製を含む大型付属品も使用できます。

特長

特別付属品

仕様

フーリエ変換赤外分光光度計 FT/IR-4X の特長

リサーチグレードでありながら、ダウンサイジングを追求

A3 用紙２枚に収まるフットプリント

従来機（FT/IR-4000 series）と比較して、設置面積で約40 ％の省スペース化を実現しています。

高 S/N、高分解、高波数精度を小型な筐体で実現

24 ビット A/D コンバーターや低ノイズ電気系、高輝度光源や高性能検出器、高スループット光学系により 35000：1 の高S/N となっており、微量試料や顕微測定が高感度に行えます。

食品包装ラップのコーティング剤（ATR 測定）とφ 0.5 mm の PS フィルム（透過測定）

最高分解は 0.4 cm^-1 あり、ガスの振動スペクトルも測定可能です。また、自動アパーチャーにより分解に合わせて最適アパーチャーサイズに設定されます。

CH₄（メタン）ガスの透過スペクトル（10 cm ガスセル使用）

半導体レーザーにより、長寿命化を実現し装置の小型化にも貢献しています。レーザーをXLD 方式により高精度に発振することで、He-Ne レーザーと同等の 0.0005 cm^-1 の波数精度を有しています。

PS フィルムデータ（10回測定を重ね書き）とPS ピーク位置の安定性（10回測定をスタック表示）

安心して末永く使って頂くために堅牢性と拡張性を追求

メンテナンスフリー構造

実績のある堅牢な密閉型干渉計は、高い密閉性により湿度に弱い光学素子を保護します。光学素子保護のための終夜通電や乾燥剤の定期交換が必要ありません。内蔵温湿度センサーで常時モニターしており安心して使えます。また、干渉計窓板には、耐湿性に優る KRS-5 を採用しています。
サンプリングレーザーには、長寿命の半導体レーザーを採用し、長期にわたり安心して使用できます。
干渉計ミラーには、コーナーキューブミラーを採用し、外乱等による影響をリアルタイムでキャンセルします。