製品情報 NFS series

走査型近接場光学顕微分光システム

NFS series
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走査型近接場光学顕微分光システム NFS series
走査型近接場光学顕微分光システムNFSシリーズはナノテクノロジーに対する日本分光の新しいソリューションです。 微小領域におけるキャラクタリゼーションの方法として、電子線を用いた電子顕微鏡による形態観察、X線マイクロアナライザによる元素分析、走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察があります。これらの分析方法は、高い空間分解能の像が得られますが、試料表面の化学情報を得ることができません。
一方、顕微FT/IR分光、顕微フォトルミネッセンス分光、顕微ラマン分光などにより表面の化学情報が得られますが、空間分解能に限度があるため、得られる情報はミクロンスケールにとどまっていました。光は回折限界により、使用する波長程度までしか絞れないためです。この回折限界を越えた極微小領域でのキャラクタリゼーションを可能にしたのが走査型近接場顕微鏡NFSシリーズです。

走査型近接場光学顕微分光システム NFSシリーズの特長

回折限界を超えた分解能

数100nmの高空間分解能で顕微分光測定を行うことができます。

日本分光製プローブ

日本分光製のプローブは特定の大きさの近接場光を確実に利用できます。

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分光測定と試料表面の形状測定の同時測定

走査型近接場光学顕微分光の特徴として試料表面の形状測定を同時に行うことができます。

井上春成賞を受賞

日本の科学技術の発展において権威のある井上春成賞を受賞しました。

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