赤外顕微鏡

IRT-5200

豊富な特別付属品

IRT-5200では検出器や対物レンズなど多様な付属品を用意しています。

ここでは代表的な特別付属品についてご紹介します。付属品の詳しい情報、その他の付属品についてはカタログに記載しておりますので、ページ右上のボタンより資料請求をお願いいたします。

検出器類

検出器

標準搭載のミッドバンド MCT検出器の他に、ナローバンド、ワイドバンド MCT検出器、DLATGS及び近赤外用InSbとInGaAs検出器を用意しています。同時に2台の検出器を搭載でき、ソフトから切換え操作が行えます。SDC-5200型第2検出器着脱ユニット(オプション)を搭載すれば、ユーザーが第2検出器側(単素子検出器のみ対応)を交換できます。
NMCT-5000/5200C N-MCT検出器(5000-750cm−1
WMCT-5000/5200C W-MCT検出器(7800-450cm−1
TGS-5000/5200C DLATGS検出器(7800-400cm−1
InSb-5000/5200C InSb検出器(15000-1850cm−1
IGA-5000/5200C InGaAs検出器(12000-4000cm−1
SDC-5200 第2検出器着脱ユニット(5000C型検出器対応)
* 5200C型は第2検出器着脱ユニット用の検出器です。
* リニアレイ検出器へのアップグレードに関しましてはお問い合わせ下さい。
赤外顕微鏡用検出器

ステージ

自動XYZステージ IPS-5000型

IRT-5200に標準搭載されているイメージングソフトにより制御され、広範囲のマッピング測定や顕微画像の合成操作、オートフォーカスなどマニュアルステージでは行えない機能が追加されます。
可動範囲 X:100mm、Y:75mm、Z:25mm(1µmステップ)
積載重量 5kg(最大)、500g(通常)
その他 オートフォーカス機能付き
赤外顕微鏡用自動XYZステージ

ATR

ATRプリズム

顕微ATRは、ATR-5000-Z、G、D型とプリズム保持部分が円錐型をした形状をし、表面に凹凸のある試料の測定に向いているATR-5000-G45型、観察型にはプリズム保持部分が上下する機構を持ち、試料観察とATR測定の切換えが可能なATR-5000-VG型とATR-5000-SG型、ダイヤモンドプリズムまたはZnSプリズムを通して密着した試料を観察できるATR-5000-SD型およびATR-5000-SS型、特殊な光学系により広い領域を一度にマッピング測定が行えるATR-5000-MG型とATR-5000-WG型があります。顕微ATRは認識プレート付で、スライドイン方式を採用しています。
プリズム ATR-5000-Z(プリズム:ZnSe、入射角:50~60°)
ATR-5000-G(プリズム:Ge、入射角:40~50°)
ATR-5000-D(プリズム:ダイヤモンド、入射角:50~60°)
ATR-5000-G45(突起型、プリズム:Ge、入射角:35~45°)
ATR-5000-VG(観察型、プリズム:Ge、入射角:35~45°)
ATR-5000-SG(観察型、プリズム:Ge、入射角:38~50°)
ATR-5000-SS(観察型、プリズム:ZnS、入射角:38~50°)
ATR-5000-SD(観察型、プリズム:ダイヤモンド、入射角:36~45°)
ATR-5000-MG(広領域型、プリズム:Ge、測定領域:400 µm 角)
ATR-5000-WG(広領域型、プリズム:Ge、測定領域:1600 µm 角)
* 顕微ATR使用時には、圧力センサーが必要です。
顕微ATR 顕微ATR

偏光反射測定

偏光反射ユニット RAS-5000型

高感度反射測定法は、金属表面の薄い膜(数10 Å〜数 µm)を、偏光を利用して測定します。通常の反射法に比較して数倍から数10倍、感度が向上します。偏光反射ユニットは認識プレート付で、スライドイン方式を採用しています。
入射角 70° ± 10°
反射回数 1回
* PL-IR-5000型赤外偏光測定ユニットが必要です。
* リニアアレイ検出器では使用できません。単素子検出器でご使用ください。
偏光反射ユニット

赤外偏光測定

赤外偏光測定ユニット PL-IR-5000型

顕微鏡に赤外偏光子を内蔵し、測定プログラムから偏光子の光路への挿入、取り出し及び角度のコントロールを行うことができます。単結晶や単繊維の配向測定や高感度反射測定のときに使用します。
偏光子 ワイヤーグリッド型KRS-5
角度コントロール 0~175°(1°ステップ)
* リニアアレイ検出器にアップグレードした場合、PL-IR-5000型は使用できません。

微分干渉測定

微分干渉観察ユニット DIC-5000型

微分干渉観察は、透明な試料などの観察時に、試料のコントラストが強調されて見やすくなります。10倍対物レンズによる観察に対応しています。
* 別途10倍対物レンズ、可視偏光観察ユニットが必要です。
微分干渉観察ユニット

蛍光観察測定

蛍光観察ユニット MF-5000VIS/MF-5000UV型

試料の目的部位が可視では識別できないが蛍光性を有する場合、蛍光観察ユニットを使用することにより特定することができます。対応波長領域により2タイプ用意しています。波長設定はフィルター方式です。
MF-5000VIS
光源 75W Xeランプ
対応可能波長 400~700nm
励起波長 400, 480nm(バンドパスフィルター)、最大5枚搭載可能
蛍光波長 540, 600, 700nm(バンドパスフィルター)、最大5枚搭載可能
観察カメラ 冷却型CCDカメラ
MF-5000UV
光源 100W Hg-Xeランプ
対応可能波長 250~700nm
励起波長 330, 400, 480nm(バンドパスフィルター)、最大5枚搭載可能
蛍光波長 450, 540, 600, 700nm(バンドパスフィルター)、最大5枚搭載可能
観察カメラ 紫外用冷却型CCDカメラ
赤外顕微鏡用蛍光観察ユニット 赤外顕微鏡用蛍光観察フィルター

セル

ダイヤモンドセル DC-500型

顕微赤外において透過法で測定する場合、試料が厚すぎるためうまく透過スペクトルが得られないことがあります。このような場合、ダイヤモンドセルを用いて試料を挟み、圧力をかけて試料を薄く延ばし、測定することにより良好なスペクトルが得られます。単繊維、高分子材料、ゴム状製品、毛髪、生体組織等、ほとんどの試料で利用できます。
本体サイズ 25mm×75mm×12.2mm
ダイヤサイズ φ2.5mm、厚さ1mm
有効径 φ2mm
赤外顕微鏡用ダイヤモンドセル

加熱測定

加熱システム MHC-5000/7000型

物質の化学構造を知る上で、試料の相転移に伴う赤外スペクトルの変化を得ることは、大変重要です。加熱システムでは、温度を上昇させながら連続的に赤外スペクトルを測定できます。オプションの冷却ユニットを使用することにより、室温以下の温度制御も可能になります。
MHC-5000
測定範囲 室温~600℃
−190~600℃(オプション)
MHC-7000
測定範囲 室温~375℃
−60~375℃(オプション)
加熱赤外分析用プログラム(MHC-5000/7000共通)
測定プログラム 加熱測定、温度コントロール測定、時間変化表示、温度変化表示データ
処理プログラム スムージング、オフセット調整、差スペクトル、自動ベースライン補正
* ワークディスタンスの制限によりマニュアルステージでは10倍集光・対物鏡のみ使用できます。16倍集光・対物鏡は自動XYZステージとの組合わせ時のみ使用できます。32倍集光・対物鏡はいずれのステージでも使用できません。
赤外顕微鏡用加熱システム

複合分析

シェアリングホルダーセット SH-01

赤外顕微鏡とラマン顕微鏡で位置情報を共有し、簡単に同じ位置で測定することができます。
構成:ホルダー、プレート、ベース、校正試料、ソフト
シェアリングホルダー