製品情報 ウェーハ反射率測定システム
フーリエ変換赤外分光光度計

ウェーハ反射率測定システム

ウェーハ反射率測定システム
ウェーハ中に不純物として含まれる酸素や炭素、窒素は、そのウェーハの性能に大きく影響を与えます。フーリエ変換型赤外分光光度計ウェーハ反射率測定システムは、FT/IRの試料室内に専用のステージを設置することにより最大12インチのウェーハの透過・反射測定を行うことができるシステムです。専用のソフトウェアでマッピング測定を行うこともできます。

ウェーハ反射率測定システムの特長

非破壊・非接触での評価

赤外光を使用するため、非破壊・非接触で試料の評価を行うことができます。

高い精度と再現性

日本分光製FT/IRの機能を存分に生かし、高精度、高再現性の測定が可能です。

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各種規格に対応

JEITAやJEIDA等各種規格に対応しています。

  • シリコン中の炭素濃度: JEITA-EM-3503
  • シリコン中の酸素濃度: JEIDA-61-2000
  • シリコン中の窒素濃度: JEITA-EM-3512
  • アモルファスシリコン中の水素濃度
  • シリコン窒化膜中の水素濃度