FT/IR-4000シリーズは中赤外、近赤外、遠赤外対応モデルを選択することができます。
FT/IR-6000シリーズは25000cm−1~10cm−1まで、光学素子等を交換することにより、対応することができます。
さらに自動BS交換ユニットにより、BS交換時の効率・安全性を高めることができます。
日本分光のFT/IRはマイケルソン干渉計を採用しています。
マイケルソン干渉計で必須となる移動鏡に、コーナーキューブミラーを採用することにより、外乱等による影響を打ち消し、安定した測定が可能となりました。
IQアクセサリー対応付属品が試料室にセットされると、測定プログラムがその付属品を自動で認識し、適切な測定条件が自動的に設定されます。
最新のDSP(Digital Signal Processing)技術を用いて、干渉計のコントロールにデジタル制御を導入しています。
このため、従来のアナログ制御に比べて移動鏡の速度制御の時間間隔を短くすることが可能になり、高精度な移動鏡制御および低速度性能に向上が図られました。
FT/IR-6000シリーズは全モデルで高SN比を特長としています。
図4は食品包装ラップをATR PRO ONEで測定したものです。最表面にある極薄膜のコーティング剤の成分が確認されていることがわかります。
FT/IR-4000シリーズは時間分解測定機能としてラピッドスキャンを搭載することが可能です。最高10スキャン/秒で時間分解スペクトルを測定することができます。
FT/IR-6000シリーズではラピッドスキャンとして最高20スキャン/秒の測定が可能です。
またFT/IR-6000シリーズではステップスキャンを搭載することが可能です。
赤外領域では水蒸気による影響が問題になります。一般的な対策は窒素ガスをパージすることにより影響を低減します。FT/IR-6000シリーズは装置内を真空対応にすることができます。ppbレベルの水蒸気モニタリング、薄膜測定、希薄溶液測定などに威力を発揮します。