モデル名 |
FT/IR-4600 | FT/IR-4700 |
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測定波数範囲 | 7800~350cm−1 | |
測定波数拡張範囲*1 | 15000~2200cm−1、5000~220cm−1 | |
最高分解 | 0.7cm−1 | 0.4cm−1 |
SN比 | 25000:1 | 35000:1 |
検出器 (オプション) |
DLATGS(温調付き) (MCT-N、MCT-M、MCT-W、Siフォトダイオード、InSb、InGaAs) |
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ビームスプリッタ (オプション) |
Ge/KBr (Si/CaF2、Ge/CsI) |
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光源 (オプション) |
高輝度セラミック光源 (ハロゲンランプ) |
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干渉計 | 45°入射マイケルソン干渉計 コーナーキューブミラー使用、オートアライメント機構、DSP制御 密閉型 |
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パージ | 干渉計、試料室、検出器部対応 | |
ラピッドスキャン | オプション(10Hz、16cm−1) | |
寸法・重量 | 460(W) × 645(D) × 290(H)mm(本体のみ)、約33kg(本体のみ) |
モデル名 |
FT/IR-6600 | FT/IR-6700 | FT/IR-6800 |
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測定波数範囲 | 7800~350cm−1 | ||
測定波数拡張範囲 | 25000~20cm−1 | ||
最高分解 | 0.4cm−1 | 0.25cm−1 | 0.07cm−1 |
SN比 | 45000:1 | 47000:1 | 55000:1 |
検出器 (オプション) |
DLATGS(温調付き) (MCT-N、MCT-M、MCT-W、Siフォトダイオード、InSb、InGaAs、DLATGS(PE窓)、Siボロメーター) |
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ビームスプリッタ (オプション) |
Ge/KBr (広帯域Quartz、Si/CaF2、広帯域KBr、Ge/CsI、マイラー(5、12、25、50µm、広帯域型)(オプション: 自動BS交換ユニット)) |
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光源 (オプション) |
高輝度セラミック光源 (ハロゲンランプ) |
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干渉計 | 28°入射マイケルソン干渉計 コーナーキューブミラー使用、オートアライメント機構、DSP制御 密閉型 |
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真空密閉対応 | オプション | ||
パージ | 干渉計、試料室、検出器部対応 | ||
ラピッドスキャン | オプション(20Hz、16cm−1) | 標準(20Hz、16cm−1) | |
ステップスキャン | オプション | ||
寸法・重量 | 600(W) × 690(D) × 315(H)mm(本体のみ)、約56kg(本体のみ) |