モデル名 |
FT/IR-6X | FT/IR-8X |
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測定波数範囲 | 7800~350 cm−1 | |
測定波数拡張範囲 | 25000~20 cm−1 | |
最高分解 | 0.25 cm−1 | 0.07 cm−1 |
干渉計 | 28°入射マイケルソン干渉計 Ge/KBr ビームスプリッタ(交換可能)、コーナーキューブミラー オートアライメント機構、DSP制御、密閉型(KRS-5窓板、オプションで窓板交換可能) |
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データサンプリングレーザー | 半導体レーザー | He-Neレーザー |
真空密閉対応 | オプション | |
光源 | 高輝度セラミック光源 | |
検出器 | DLATGS(温調付き) | |
SN比*1 | 47000:1 | 55000:1 |
ラピッドスキャン機能*2 | オプション | |
ステップスキャン機能*3 | - | オプション |
標準プログラム | スペクトルマネージャーVer.2.5 | |
寸法・重量 | 本体:600(W) × 690(D) × 315(H) mm、56 kg |
本体:600(W) × 690(D) × 315(H) mm、56 kg 電源BOX:85(W) × 260(D) × 197(H) mm、4.7 kg |