He-Neレーザ光源専用でエリプソメータをローコストで提供
高性能、高速サンプリング、コストパフォーマンスを誇るエリプソメータを実現
紫外領域対応光学系により240nmからの測定が可能
近赤外用分光器を搭載し切り換えで1700nmまでをカバー
試料ステージが水平置きタイプの汎用膜厚測定システム
20µsecの時間分解で液晶配向のダイナミクスを高感度に検出